(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202222200280.3 (22)申请日 2022.08.19 (73)专利权人 太赫兹科技应用 （广东） 有限公司 地址 510000 广东省广州市黄埔区华峰路8 号自编三栋4楼415房 (72)发明人 李茜　黄玉青　陈汉杰　 (74)专利代理 机构 广州润禾知识产权代理事务 所(普通合伙) 44446 专利代理师 林伟斌 (51)Int.Cl. G01N 21/01(2006.01) G01N 21/3586(2014.01) (54)实用新型名称 一种太赫兹光谱仪的样品检测装置 (57)摘要 本实用新型涉及太赫兹光谱检测设备技术 领域， 具体是一种太赫兹光谱仪的样品检测装 置， 包括： 密闭的腔体和带样品安装位的支架， 所 述腔体的一侧设有安装口， 所述支架转动设置于 所述安装口上且尺寸与所述安装口匹配； 腔体内 有光学组件形成一个的与腔体外连通的检测光 路， 所述支架通过转动使安装位切入 所述检测光 路。 解决了现有太赫兹时域光谱仪在检测替换样 品的过程中， 需要大面积敞开样品仓， 导致样品 仓内的检测环 境被严重破坏， 因而每次更换样品 都要重新营造检测环境， 导致损耗大， 时间长， 检 测效率低的问题。 有效地在更换样品的过程中保 护了样品仓内原有的检测环境， 实现快速连续地 对检测太赫兹样品进行更换， 提高检测 效率， 减 少氮气的浪费。 权利要求书1页 说明书5页 附图6页 CN 218121744 U 2022.12.23 CN 218121744 U 1.一种太赫兹光谱仪的样品检测装置， 其特征在于， 包括： 密闭的腔体和带样品安装位 的支架， 所述腔体的一侧设有安装口， 所述支架转动设置于所述安装口上且尺寸与所述安 装口匹配； 腔体内设有光学组件， 所述光学组件形成检测光路， 所述检测光路与腔体外连 通， 所述支 架通过转动使所述样品安装位进入或离开所述腔体。 2.根据权利要求1所述的一种太赫兹光谱仪的样品检测装置， 其特征在于， 所述支架为 圆盘， 所述样品安装位至少三个， 所述样品安装位靠 近所述支 架的外沿且等距分布。 3.根据权利要求1所述的一种太赫兹光谱仪的样品检测装置， 其特征在于， 所述安装口 设置在所述腔体的顶部， 所述支架竖直设置在所述安装口上且水平截面与所述安装口匹 配。 4.根据权利要求1所述的一种太赫兹光谱仪的样品检测装置， 其特征在于， 所述样品安 装位包括设置在一侧的限位凸沿和与所述限位凸沿相连的存放腔。 5.根据权利要求4所述的一种太赫兹光谱仪的样品检测装置， 其特征在于， 所述存放腔 远离限位凸沿的一侧设有与所述样品安装位活动相连的固定件， 所述固定件的中部留有贯 穿所述固定件两侧的避让通道。 6.根据权利要求1 ‑5任一项所述的一种太赫兹光谱仪的样品检测装置， 其特征在于， 所 述光学组件包括若干反射聚焦单元， 所述腔 体的侧面上设有输入口和输出口， 所述输入口、 反射聚焦单 元和输出口形成检测光路。 7.根据权利要求6所述的一种太赫兹光谱仪的样品检测装置， 其特征在于， 所述反射 聚 焦单元至少两个且对称设置在所述支架的两侧， 所述反射聚焦单元与所述腔 体的内壁相连 且设于所述输入口和输出口位置相对的一侧。 8.根据权利要求6所述的一种太赫兹光谱仪的样品检测装置， 其特征在于， 所述反射 聚 焦单元包括： 带角度调节的安装座和设置在所述 安装座上的抛面镜 。 9.根据权利要求1 ‑5任一项所述的一种太赫兹光谱仪的样品检测装置， 其特征在于， 所 述腔体包括： 透射顶盖和透射底座， 所述 安装口设置在所述的透射顶盖上。 10.根据权利要求9所述的一种太赫兹光谱仪的样品检测装置， 其特征在于， 所述透射 顶盖上设有步进电机， 所述 步进电机与所述支 架的转动中心相连且驱动所述支 架转动。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 218121744 U 2一种太赫兹光谱 仪的样品检测装 置 技术领域 [0001]本实用新型涉及太赫兹光谱检测设备技术领域， 更具体地， 涉及一种太赫兹光谱 仪的样品检测装置 。 背景技术 [0002]THz光谱仪是一种物质检测设备， 是利用大分子的振动和转动能级大多在THz的波 段内， 而大分子， 特别是生物和化学大分子具有本身物性的物质基团， 因而能通过对特征频 率的分析获取样品的物质结构和物性， 分析和 准确鉴定样品。 太赫兹检测设备是通过利用 飞秒激光器打在太赫兹光电导天线电极上， 在偏压电场的作用下产生太赫兹光谱信号。 信 号在穿过被测样品后， 探测端在太赫兹波与激光的共同作用下将光信号转换为电信号， 输 出到前置放大器及锁相放大器中， 得到分析和简单 所需的光谱信号。 [0003]太赫兹检测系统中， 样品的检测结果的波形是利用延迟装置通过改变穿过样品的 不同时刻的太赫兹脉冲电场 强度的泵浦光和探测光的光程差来测 量的。 在检测过程中， 检 测的误差主要来源于泵浦光， 泵浦光受环境温度和湿度的波动影响大， 而且样品的折射和 反射对太赫兹波的准直度十分敏感， 因而放置样品的样品仓需要营造稳定可靠的检测环 境， 以保持检测的精度和准确性。 [0004]对样品进行透射检测是现有使用太赫兹光谱仪检测物质的常规方法。 现有配套的 样品仓每次测试的时候需要充氮气3～5分钟， 使得样品仓里面的温度和湿度得到有效控 制， 现有的透射检测样品小， 装夹难度大， 因而每次更换样品都需要大面积地敞开样品仓， 以满足样品更换 的操作需要。 这导致在批量生产的过程中， 样品更换至恢复正常测试所需 的时间长。 而且每次营造测试环境都需要注入惰性保护气体， 导致大量的气体在样品更换 的过程中被浪费， 而且也无法回收， 导 致成本高。 实用新型内容 [0005]本实用新型旨在克服上述现有技术的至少一种缺陷， 提供一种太赫兹光谱仪的样 品检测装置， 用于解决太赫兹光谱仪在更换测试样品时腔体大面积敞开， 破坏原有检测环 境， 影响检测效率的问题。 [0006]本实用新型采取的技术方案是， 一种太赫兹光谱仪的样品检测装置， 包括： 包括： 密闭的腔体和带样品安装位的支架， 所述腔体的一侧设有安装口， 所述支架转动设置于所 述安装口上且尺寸与所述安装口匹配； 腔 体内设有光学组件， 所述光学组件形成检测光路， 所述检测光路与腔体外连通， 所述支 架通过转动使所述样品安装位进入或离开所述腔体。 [0007]腔体用于容纳 检测装置， 提供密闭的检测环境， 样品安装位用于安装和固定样品， 支架用于承载样品， 从外至内运输样品， 安装口用于让支架恰好通过， 支架恰 好嵌在腔 体有 安装口的一侧， 使得支架能从外向内运输样品。 安装口的形状与 支架截面相配合， 让安装口 的尺寸与支架尺寸恰好配合， 使得支架 能恰好通过是为了让腔体成为一个密闭的整体， 减 少漏出仪器的氮气， 防止外界的空气影响仪器内部的空气； 同时让支架连续快速的从外到说　明　书 1/5 页 3 CN 218121744 U 3